鍍層厚度檢測(cè)HC-200型數(shù)字式雙用涂層測(cè)厚儀

詳細(xì)介紹

一.產(chǎn)品概述

HC系列涂層測(cè)厚儀是采用電渦流測(cè)厚法和電磁測(cè)厚法的便攜式覆層測(cè)厚儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量。既可用于實(shí)驗(yàn)室，也可用于工程現(xiàn)場(chǎng)。能廣泛地應(yīng)用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測(cè)領(lǐng)域。是材料保護(hù)專業(yè)必備的儀器?？蔁o損地測(cè)量磁性金屬基體（如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆蓋層的厚度（如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等）及非磁性金屬基體（如銅、鋁、鋅、錫等）上非導(dǎo)電覆蓋層的厚度（如橡膠、油漆、塑料、陽極氧化膜等）。

二.主要特點(diǎn)

◆采用了磁性和渦流兩種測(cè)厚方法，既可測(cè)量磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度又可測(cè)量非磁性金屬基體上非導(dǎo)電

覆蓋層的厚度；

◆具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單詞測(cè)量方式（SINGLE）;

◆具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（App1）；

◆設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、**值（MAX）、最小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO.）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S.DEV）；

◆可采用兩種方法對(duì)一起進(jìn)行校準(zhǔn),并可用基本校準(zhǔn)法對(duì)測(cè)頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正;

◆具有存貯功能：可存貯500個(gè)測(cè)量值；

◆具有刪除功能：對(duì)測(cè)量中出現(xiàn)的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除，可也刪除存貯區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù),以便進(jìn)行新的測(cè)量；

◆可設(shè)置限界：對(duì)限界外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；并可用直方圖對(duì)一批測(cè)量值進(jìn)行分析；

◆具有打印功能：可打印測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值、限界、直方圖；

◆具有與PC機(jī)通訊的同能：可將測(cè)量值、統(tǒng)計(jì)值傳輸至PC機(jī)，以便對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步處理；

◆具有電源欠壓指示功能；

◆操作工程有蜂鳴聲提示；

◆具有錯(cuò)誤提示功能，通過屏顯或蜂鳴聲進(jìn)行錯(cuò)誤提示；

◆設(shè)有兩種關(guān)機(jī)方式：手動(dòng)關(guān)機(jī)方式和自動(dòng)關(guān)機(jī)方式；

三.參數(shù)規(guī)格

測(cè)頭類型		HC-210（磁性F）	HC-220（磁性N）	HC-200（雙用FN）
工作原理		磁感應(yīng)	渦流	磁感應(yīng) 電渦流
測(cè)量范圍（μm）		0~1250	0~1250 銅上鍍鉻（0-40）	0~1250 銅上鍍鉻（0-40）
低限分辨率（μm）		0.1μm（0-100），1μm（100-1250）
顯示		背面照面，四位讀數(shù)顯示，兩行統(tǒng)計(jì)數(shù)字顯示，中文操作
校準(zhǔn)		廠家校準(zhǔn)，零校準(zhǔn)，校準(zhǔn)箔校準(zhǔn)
示值	一點(diǎn)校準(zhǔn)（μm）	±(3%H 1)	±(3%H 1.5)	±(3%H 1)±(3%H 1.5)
	二點(diǎn)校準(zhǔn)（μm）	±[(1~3%H) 1]	±[(1~3%H) 1.5]	±[(1~3%H) 1]±[(1~3%H) 1.5]
測(cè)試條	測(cè)小曲率半徑（μm）	凸面：1.5mm/凹面：3mm
	最小面值的直徑（mm)	Φ7	Φ5	F型Φ7，N型Φ5
	基體臨界厚度（mm)	0.5mm	0.3mm	F型:0.5mm,N型0.3mm
使用環(huán)境		溫度：0℃-40℃
		濕度：20%RH-90%RH
		無強(qiáng)磁場(chǎng)環(huán)境
外形尺寸		1406530mm
凈重量		0.2KG

四.探頭選用參數(shù)表

覆蓋層	有機(jī)材料等非磁性覆蓋層	非磁性的有色金屬覆蓋層
基體	（如：漆料、涂料、塑料、搪瓷和陽極化處理等）	（如：鉻、鋅、鋁、銅、錫、銀等）
如鐵、鋼等磁性金屬	F型探頭測(cè)量范圍：0μm~1250 μm	F型探頭測(cè)量范圍：0μm~1250 μm
如銅、鋁、黃銅鋅、錫等有色金屬	N型探頭測(cè)量范圍：0μm~1250 μm	N型探頭僅用于銅上鍍鉻測(cè)量范圍：0-40

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